電子標簽全性能測試系統

                          產品型號:JXI-R1220

                          聚星超高頻RFID電子標簽全性能測試系統基于PXI矢量射頻模塊和 FPGA基帶模塊,集成了自主研發的RFID測試軟件,具有內建的RFID協議棧,能夠實時發射并采集RFID通訊的射頻信號,進行完整的性能參數的測試與分析。本測試系統結合了先進的模塊化儀器和軟件無線電技術,具有軟件自定義的特點,支持的超高頻標準包括:ISO/IEC 18000-6C、EPC UHF C1G2、GS1 TIPP、GB/T 29768、GJB 7377.1,而且只需要通過軟件升級的方式,就可以支持其他標準的產品測試。


                          參考文檔

                          【PDF】聚星RFID產品手冊

                          【PDF】超高頻射頻識別標簽靈敏度測試

                          【PDF】物聯網應用驅動RFID應用測試

                          【PDF】高速運動場景射頻識別性能測試的方法

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